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更新時間:2025.06.07
LED燈具壽命測試過程

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按照標(biāo)準(zhǔn)要求: LED燈具壽命測試過程 :可以分成加速壽命測試和控制測試(即常溫下常亮測試) 加速壽命測試的一個周期分為四個步驟: 1、在 85℃和 85%RH環(huán)境下進(jìn)行測試,燈具開一小時,關(guān)一小時。共計六小時 2、冷熱沖擊試驗: 從 -50℃到 120℃進(jìn)行冷熱沖擊試驗,在每個極值溫度下保持 30 分鐘進(jìn)行測試。燈具點 亮?xí)r間周期與溫度變化周期是不一致的。具體的可參見下圖。冷熱溫度切換時間不得超過 5 分鐘。 3、在 85℃和 85%RH環(huán)境下進(jìn)行測試,燈具開一小時,關(guān)一小時。共計六小時 4、在 120℃高溫下工作 15 個小時,燈具開一個小時,關(guān)一個小時。 一個加速壽命測試循環(huán)周期為 42 個小時,當(dāng)一個加速周期完畢后, 我們進(jìn)行燈具的光度 和色的測試, 光度用于評價是否已經(jīng)失效, 而色度是用于監(jiān)控輔助, 并不真正進(jìn)入的失效評 判依據(jù)之中。標(biāo)準(zhǔn)中推薦采用一個 45公分直徑的小積分球配合

基于TCL語言和邊界掃描技術(shù)的存儲器測試腳本設(shè)計

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為了提高存儲器的邊界掃描測試軟件的通用性,提出一種基于TCL語言及邊界掃描技術(shù)的存儲器測試腳本設(shè)計方案。結(jié)合存儲器測試?yán)碚摷斑吔鐠呙柽壿嫶販y試技術(shù),研究基于TCL腳本語言的存儲器測試腳本設(shè)計方法,用以在進(jìn)行存儲器簇測試時描述存儲器自身的讀寫特性及與其外部邊界掃描測試單元的連接關(guān)系等,并給出HY6264SRAM靜態(tài)存儲器功能測試的例子。通過測試驗證,使用TCL腳本語言與高級語言聯(lián)合編程能夠提高邊界掃描測試軟件的工作效率。

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