格式:pdf
大?。?span class="single-tag-height">517KB
頁數(shù): 16頁
第一章 集成電路的測試 1.集成電路測試的定義 集成電路測試是對集成電路或模塊進行檢測, 通過測量對于集成電路的輸出回應和預期 輸出比較, 以確定或評估集成電路元器件功能和性能的過程, 是驗證設計、 監(jiān)控生產(chǎn)、 保證 質(zhì)量、分析失效以及指導應用的重要手段。 .2.集成電路測試的基本原理 輸入 X 輸出回應 Y 被測電路 DUT(Device Under Test)可作為一個已知功能的實體,測試依據(jù)原始輸入 x 和網(wǎng)絡功能集 F(x),確定原始輸出回應 y,并分析 y是否表達了電路網(wǎng)絡的實際輸出。因 此,測試的基本任務是生成測試輸入, 而測試系統(tǒng)的基本任務則是將測試輸人應用于被測器 件,并分析其輸出的正確性。 測試過程中, 測試系統(tǒng)首先生成輸入定時波形信號施加到被測 器件的原始輸入管腳, 第二步是從被測器件的原始輸出管腳采樣輸出回應, 最后經(jīng)過分析處 理得到測試結果。 3.集成電路故障與測