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更新時間:2025.06.14
采用反相位線性結(jié)構(gòu)光柵編碼的相移測量三維輪廓術(shù)

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研究了一種線性周期編碼光柵的三維輪廓術(shù),其中采用了兩個相位相反的線性周期變化的光柵光場和一個均勻光場,對被測物體進行三次采樣。在獲得物輪廓的同時,又獲得了物體的表面紋理。當背影光很暗時,經(jīng)過兩次采樣即可獲得物體的三維輪廓。通過理論分析,采用相位相反的線性周期光柵光場與相位相差1/2周期的線笥周期光柵光場相比,檢測粗度可以提高近1倍。

采用反相位線性結(jié)構(gòu)光柵編碼的相移測量三維輪廓術(shù)

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研究了一種線性周期編碼光柵的三維輪廓術(shù),其中采用了兩個相位相反的線性周期變化的光柵光場和一個均勻光場,對被測物體進行三次采樣。在獲得物體三維輪廓的同時,又獲得了物體的表面紋理。當背景光很暗時,經(jīng)過兩次采樣即可獲得物體的三維輪廓。通過理論分析,采用相位相反的線性周期光柵光場與相位相差1/2周期的線性周期光柵光場相比,檢測精度可以提高近1 倍。

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